有別於傳統接觸式 Conductive AFM，接觸式成像方式往往對於軟物質、吸附力弱的結構產生無法預期的探針壓縮、刮痕的問題，而此問題往往造成電訊號延重失真的現像，而 Hitachi 獨家專利的 SIS-Current/SSRM/PRM 跳點式量測，將提供最佳的成像品質與電訊號可信度!
有別於傳統接觸式 Conductive AFM，接觸式成像方式往往對於軟物質、吸附力弱的結構產生無法預期的探針壓縮、刮痕的問題，而此問題往往造成電訊號延重失真的現像，而 Hitachi 獨家專利的 SIS-Current/SSRM/PRM 跳點式量測，將提供最佳的成像品質與電訊號可信度!
TOP
