新拓電器

2020-03-02

AFM5000 II 軟體最新版本可供用戶更新

AFM5000 II 最新版本 7.03D 已釋出,如有需要更新者請直接連繫相關承辦業務或技術服務人員!

2019-09-01

新拓將參與2019年台北國際光電週 (攤位 : M635-1),展出日期為 2019年10月16日(三)~18日(五),歡迎到場蒞臨參觀

台北國際光電週 以精密光學、光電轉換、光機電整合、微奈米技術等科技基礎核心為主,成為光、機、電、資等領域的交流平台,展會內容請參考官網 : http://www.optotaiwan.com/

2019-03-25

日本原廠人員田村慶太經理將於4月中旬來台拜訪,主要議題為真空電性發展現況與第三代 SNDM / SCM 開發

真空對於 SCM、C-AFM 與 SSRM 電性量測具有提昇空間解析度與數據再現性的優點,已有越來越多的國際期刊發表相關的研究,而 Hitachi AFM5300E 具備 25 年的開發技術與日系製作工藝,提供客戶最佳的選擇!

2018-10-01

日立 CL 系列掃描器於2018年列為日本政府經濟產業省列為高科技出口管制項目,如用戶需添購此項部件需備妥相關申請文件,詳情請聯繫業務承辦人員

CL (Closed-Loop) 系列掃描器系指 CL-110N (AFM5100N)、CL-15E (AFM5300E)、CL-100E (AFM5300E) 三種型號之掃描器部件。有鑒於其包含高科技定位技術成分,日本經濟產業省於 2018 年將其列入高科技出口管制項目

2018-07-01

新拓將廣告贊助107年中國材料科學年會暨50週年慶,歡迎有興趣者參考官網 https://www.mrst2018.fcu.edu.tw/

材料年會為國內材料界每年最重要的學術會議,全國從事與材料研究相關的系所、公司及研發機構皆將與會,逾一千位以上的學者專家及博、碩士班研究生出席,發表論文或聆聽演講,是一個相互交換經驗及交流的絕佳時機

2018-05-01

Hitachi 發表白光干涉 3D 輪廓顯微鏡 VS1000 系列

白光干涉 3D 輪廓儀具備大範圍掃描功能,優勢在於速度快並可將表面粗糙度量化,而日立新開發之 WLI 技術可量測高深寬比結構,以及量測多層膜結構間氣泡與異物的分層解析。

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