2015-03-01
Hitachi 發表 SEM 與 AFM 共用樣品載台連動機制
此部件將有效結合 SEM 功能與 AFM 成像，提供最佳的原位成像與分析。詳細說明可以參考 : Microscopy and Analysis | SPM supplement March/April 2015, P.15。
2015-02-01
Hitachi 發表最新一代 AFM5000 II 控制平台
AFM5000 II 第二代控制器將提供 AFM5100N / AFM5300E 機種使用，並全面更新 AFM 操作介面，並導入 3D Overlay 最新圖像處理技術。
2015-01-05
[原廠公告] SPA-300HV 機種將於2015年7月中止服務
SPA-300HV 真空控溫型 AFM 機種發展於 1998 年，迄今已逾 17 年歷史，日本原廠宣告將於 2015 年 7 月中止相關零附件的供應與維修服務，惟客戶有重大需求請與敝司負責之維修人員聯繫。另有同級機種 AFM5300E 可供選擇，敝司另有老客戶優惠方案 !
2014-12-01
新拓於清大奈材中心開課 AFM/SPM 寒假訓練課程
新拓受邀國立清華大學奈微與材料科技中心舉辦 AFM/SPM 寒假訓練課程，於 1/26 下午 1:30 至 3:30 講授 AFM 原理與應用，歡迎有興趣者踴躍報名參加。詳情請上國立清華大學奈微與材料科技中心官方網站報名。
2014-01-01
Hitachi 推出新世代 AFM5000 控制平台
Hitachi 推出最新世代 AFM5000 控制平台，將提供 AFM5100N / AFM5300E / AFM5400L 機種使用，並導入新一代的分析軟體供用戶選擇。
2013-06-01
Hitachi 新世代掃描參數自動優化 RealTune 軟體發表
RealTune 功能將提供掃描參數自動優化的程序，具有點、線、面三種掃描參數優化方式，讓過去傳統 AFM 繁複的掃描參數設定走入歷史，並朝向 AFM 量測一鍵化的未來趨勢大幅躍進。
2013-01-01
日本日立(Hitachi High-Tech)併購日本精工 (SII Nanotechnology Inc.)
2013 年日立 (Hitachi High-Tech) 併購 精工 (SII Nanotechnology Inc.) 分析儀器公司，包括 AFM/SPM、XRF、FIB .... 等儀器設備。
