About us
關於新拓
Product
產品種類
AFM/SPM產品
白光干涉3D輪廓儀
AFM/SPM配件
原廠探針
Technology
技術情報
Application
應用資料
News
最新消息
Electrical Device
電器部門
Contact
聯絡我們
選單
關於新拓
產品種類
技術情報
應用資料
最新消息
電器部門
聯絡我們
首頁
Technology
掃描之單鍵化
掃描之單鍵化
傳統 AFM 掃描需要許多繁複的參數設定如 I/P Gain、Scan Speed、下壓力 .... 等,也因此能否獲得好的 AFM 圖像取決於操作者的經驗。在 Hitachi 設計出的 RealTune 軟體中,這些掃描參數將完全由軟體自動判定,也因此 AFM 一鍵化的理想境界得以實現。
立即諮詢
相關產品
掃描參數自動優化 RealTune
結構自動標定功能
數位化Q值控制
表面定量機械性質 / SIS-ACCESS & QuantiMech
TOP