新拓電器


SIS mode ( Scanning Intelligent Scan )
1. 有效解決傳統 Tapping Mode 探針在樣品表面上直接拖曳的缺陷
2. 有效減少探針側向推力
3. 只在用戶設定的畫素點才接觸樣品表面,有效減少探針磨耗
4. 探針具備主動迴避機制 (上坡減速與閃避)
5. 毋須設定繁複之掃描參數,SIS 具備自動控制速度機制


 
用途
1. 軟質樣品 ( 如高分子、塑橡膠、生物樣品 .... 等 )
2. 黏性樣品 ( 如膠類、高分子、生物樣品 .... 等 )
3. 表面起伏大的樣品
4. 需要大範圍掃描的樣品 ( 如 >20µm 之 XY 掃描 )
5. 結構陡峭之樣品
6. 使用奈米碳管探針時
7. 其他不易量測之樣品 

 
適用機種
AFM5100N、AFM5300E 與 AFM5400L 之全面標準配備
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