About us
關於新拓
Product
產品種類
AFM/SPM產品
白光干涉3D輪廓儀
AFM/SPM配件
原廠探針
Technology
技術情報
Application
應用資料
News
最新消息
Electrical Device
電器部門
Contact
聯絡我們
選單
關於新拓
產品種類
技術情報
應用資料
最新消息
電器部門
聯絡我們
首頁
Technology
智慧型跳點式物性成像 SIS-Property
特點
適用模組
特點
1. SIS mode 與各種物性成像模組結合
2. 有效減少形貌效應對於物性數據的干擾,用以增加物性鑑別可信度
3. 提升物性量測安定性
4. 保護探針
適用模組
Conductive AFM、Phase、SSRM、SCM、EFM、PRM、VE、Adhesion .... 等
立即諮詢
相關產品
數位化Q值控制
影像2D/3D疊圖功能
掃描之單鍵化
結構自動標定功能
TOP