新拓電器

2015-03-01

Hitachi 發表 SEM 與 AFM 共用樣品載台連動機制


此部件將有效結合 SEM 功能與 AFM 成像,提供最佳的原位成像與分析。詳細說明可以參考 : Microscopy and Analysis | SPM supplement March/April 2015, P.15。

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