特點
1. 可於每個畫素點蒐集力譜 (Force curve) 資訊,並擷取力譜中各項物理資訊,並進行成像化
2. 最多可以輸出八組成像訊號,包括形貌、吸附力、形變、楊氏模量、電流 .... 等
3. 採用正統 Nano Indentation 直上直下的探針壓印方式,非採用邊橫向掃描邊蒐集力譜訊號,能有效降低 Indentation 受形貌干擾的效應
4. 楊氏模量的擬合可採用 DMT、Hertz、JKR .... 等方式
5. 具備雙重模式的探針彈性係數校正機制
6. 具備探針針尖半徑計算功能
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適用機種
1. AFM100 系列
2. AFM5300E
3. AFM5500M
應用
1. 高分子材料
2. 塑橡膠
3. 生醫材料
4. 光電材料